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- [发明专利]显微成像装置-CN202110601658.8在审
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曹耕玮;徐捷;闵长俊;张聿全;袁小聪
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深圳大学
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2021-05-31
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2021-08-17
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G01N21/47
- 本申请提供了一种显微成像装置,包括:光源,用于发射初始光线;倍频晶体,设置于初始光线的传播路径上,用于形成第一初始光线和第二初始光线;第一光线组件,用于将第一初始光线转变为第一目标光线,第一目标光线为泵浦光第一目标光线用于在第一时间照射于目标结构的表面,以激发目标结构性质变化;第二光线组件,用于将第二初始光线转变为第二目标光线,第二目标光线为结构光,第二目标光线用于在第一时间后的预设时间照射于目标结构的表面,以形成背向散射光;成像组件利用该显微成像装置获取的目标结构的图像的分辨率高。
- 显微成像装置
- [实用新型]显微成像装置-CN202121204706.1有效
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曹耕玮;徐捷;闵长俊;张聿全;袁小聪
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深圳大学
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2021-05-31
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2023-03-17
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G01N21/47
- 本申请提供了一种显微成像装置,包括:光源,用于发射初始光线;倍频晶体,设置于初始光线的传播路径上,用于形成第一初始光线和第二初始光线;第一光线组件,用于将第一初始光线转变为第一目标光线,第一目标光线为泵浦光第一目标光线用于在第一时间照射于目标结构的表面,以激发目标结构性质变化;第二光线组件,用于将第二初始光线转变为第二目标光线,第二目标光线为结构光,第二目标光线用于在第一时间后的预设时间照射于目标结构的表面,以形成背向散射光;成像组件利用该显微成像装置获取的目标结构的图像的分辨率高。
- 显微成像装置
- [发明专利]一种量块尺寸非接触检测装置及方法-CN202210624539.9在审
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杨凡
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南京师范大学
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2022-06-02
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2022-08-16
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G01B11/00
- 本发明属于计量技术领域,公开了一种量块尺寸非接触检测装置及方法,包括:双显微成像系统、显微镜固定滑轨、潜望装置、样品定位平台、精密平动平台;双显微成像系统中均包括显微物镜;双显微成像系统分别安装于所述显微镜固定滑轨的左侧和右侧,并沿着显微镜固定滑轨滑动;样品定位平台固定在精密平动平台上,样品定位平台用于放置待测量块;潜望装置设置于显微物镜附近,用于将待测量块边界的像折转入显微成像系统。本方案无需测量双显微成像系统之间的距离,无须双显微成像系统放大倍数完全相同,只需保证待测量块两边界分别落入对应显微成像系统视野即可实现量块尺寸测量,适用于量块加工误差的高精度检验。
- 一种量块尺寸接触检测装置方法
- [实用新型]一种量块长度非接触检测装置-CN202221372379.5有效
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杨凡
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南京师范大学
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2022-06-02
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2022-09-20
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G01B11/00
- 本实用新型属于计量技术领域,公开了一种量块长度非接触检测装置,包括:双显微成像系统、显微镜固定滑轨、潜望装置、样品定位平台、精密平动平台;双显微成像系统中均包括显微物镜;双显微成像系统分别安装于所述显微镜固定滑轨的左侧和右侧,并沿着显微镜固定滑轨滑动;样品定位平台固定在精密平动平台上,样品定位平台用于放置待测量块;潜望装置设置于显微物镜附近,用于将待测量块边界的像折转入显微成像系统。本方案无需测量双显微成像系统之间的距离,无须双显微成像系统放大倍数完全相同,只需保证待测量块两边界分别落入对应显微成像系统视野即可实现量块尺寸测量,适用于量块加工误差的高精度检验。
- 一种量块长度接触检测装置
- [发明专利]一种改进的光场显微成像装置及构建方法-CN202010317725.9有效
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许传龙;顾梦涛;宋祥磊
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东南大学
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2020-04-21
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2022-02-01
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G01P5/26
- 本发明公开了一种改进的光场显微成像装置及构建方法,其中光场显微成像装置包括显微镜物镜、显微镜筒镜、微透镜阵列以及相机传感器,所述相机传感器采集显微镜物镜成像于显微镜筒镜上的图像;其特征在于:所述微透镜阵列位于显微镜像平面与相机传感器之间,显微镜筒镜成像于显微镜像平面上,再经过微透镜阵列的作用后,再次成像于相机传感器上。本发明根据离焦距离定义求得微透镜阵列和显微镜像平面的距离;根据F数匹配原则求得相机传感器与微透镜阵列距离。本发明所提供的改进的光场显微成像装置可在物镜焦平面附近获得高重建分辨率,可作为光场显微粒子图像测速系统的成像装置。
- 一种改进显微成像装置构建方法
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